Defect annihilation  dynamic in Switching ON-OFF                                 for 4D Twisted Nematic devices





                                              Dynamic of annihilation of disclination lines for Vz< V_crit
                                                            (unstable situation) : first pathway
                                                      Abulk=0.1 L1=0.04 L2=0.04 with pretilt =10)

                                           
                                                  Dynamic of annihilation of disclination lines for Vz< V_crit
                                                            when 4DTN is unstable : second pathway
                                                      Abulk=0.1 L1=0.04 L2=0.04, pretilt =10